Berbayar
DESKRIPSI LAYANAN | Analisa per Sampel padatan (Parameter SEM fotomikrograf Merupakan instrument untuk mengetahui informasi-informasi mengenai: 1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya (kekerasan, sifat memantulkan cahaya, dan sebagainya). 2. Morfologi,…
- Loka Penelitian Teknologi Bersih
- Bandung
Gedung 50 – Kampus LIPI Jl. Cisitu Sangkuriang, Bandung 40135 - 022-2503051
- lptb@mail.lipi.go.id
Marketing Office
Pusat Pemanfaatan dan Inovasi IPTEK LIPI
layanan@mail.lipi.go.id
Analisa per Sampel padatan (Parameter SEM fotomikrograf
Merupakan instrument untuk mengetahui informasi-informasi mengenai:
1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya (kekerasan, sifat memantulkan cahaya, dan sebagainya).
2. Morfologi, yaitu bentuk dan ukuran dari partikel penyusun objek (kekuatan, cacat pada Integrated Circuit (IC) dan chip, dan sebagainya).
3.Komposisi, yaitu data kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam objek (titik lebur, kereaktifan, kekerasan, dan sebagainya).
4.Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir-butir di dalam objek yang diamati (konduktifitas, sifat elektrik, kekuatan, dan sebagainya).
Merupakan instrument untuk mengkarakterisasi struktur kristal, ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal tertentu ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan puncak – puncak yang spesifik
Syarat Pengajuan:
Merupakan instrument untuk mengetahui informasi-informasi mengenai:
1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya (kekerasan, sifat memantulkan cahaya, dan sebagainya).
2. Morfologi, yaitu bentuk dan ukuran dari partikel penyusun objek (kekuatan, cacat pada Integrated Circuit (IC) dan chip, dan sebagainya).
3.Komposisi, yaitu data kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam objek (titik lebur, kereaktifan, kekerasan, dan sebagainya).
4.Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir-butir di dalam objek yang diamati (konduktifitas, sifat elektrik, kekuatan, dan sebagainya).
Merupakan instrument untuk mengkarakterisasi struktur kristal, ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal tertentu ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan puncak – puncak yang spesifik
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
| Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
|---|---|---|
| Berkas SOP Layanan | 0.88 MB | |
| Template File Data Foto | 0 MB | |
| Template File Dukung Lainnya | 0 MB |
