Berbayar
DESKRIPSI LAYANAN | Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan sinar-x karakteristik yang terjadi dari peristiwa efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena elektron dalam atom target (sampel) terkena sinar berenergi tinggi (radiasi…
- Pusat Penelitian Kimia
- Serpong
Gd. 452 Kawasan PUSPIPTEK, Serpong Tangerang Selatan, Banten - 021-7560929
- rcchem@mail.lipi.go.id
Marketing Office
Pusat Pemanfaatan dan Inovasi IPTEK LIPI
serpongppiilipi@gmail.com
Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan sinar-x karakteristik yang terjadi dari peristiwa efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena elektron dalam atom target (sampel) terkena sinar berenergi tinggi (radiasi gamma, sinar-x). Bila energi sinar tersebut lebih tinggi daripada energi ikat elektron dalam orbit K, L atau M atom target, maka elektron atom target akan keluar dari orbitnya. Dengan demikian atom target akan mengalami kekosongan elektron. Kekosongan elektron ini akan diisi oleh elektron dari orbital yang lebih luar diikuti pelepasan energi yang berupa sinar-x. Sinar-x yang dihasilkan merupakan suatu gabungan spektrum sinambung dan spektrum berenergi tertentu (discreet) yang berasal dari bahan sasaran yang tertumbuk elektron. Sinar-x karakteristik yang dihasilkan dari peristiwa tersebut ditangkap oleh detektor semi konduktor.
X-Ray Fluorescen (XRF) mirip dengan XRD namun perbedaannya adalah fluoresensi-nya yang digunakan untuk analisa. Suatu material tambang, cukup dibuat homogen dengan digerus dan dipadatkan atau dilebur, dicetak menjadi semacam bead atau seperti koin, tentunya dengan penimbangan tertentu. XRF lebih akurat dibandingkan XRD secara kuantitatif/jumlah. XRF bisa memberikan data baik dalam bentuk elemen maupun oksida. Analisanya-pun relatif cepat karena simultan (beberapa elemen atau oksida bisa dianalisa sekaligus dalam sekali running). Biayanya relatif murah juga kok. Kekurangannya : tidak bisa analisa untuk elemen atau oksida dalam kadar rendah (< 0>
PENTING:
1. Bobot sampel minimal 1-3 gr
2. Sampel harus dalam bentuk serbuk (tidak menerima preparasi menjadi serbuk)
Syarat Pengajuan:
X-Ray Fluorescen (XRF) mirip dengan XRD namun perbedaannya adalah fluoresensi-nya yang digunakan untuk analisa. Suatu material tambang, cukup dibuat homogen dengan digerus dan dipadatkan atau dilebur, dicetak menjadi semacam bead atau seperti koin, tentunya dengan penimbangan tertentu. XRF lebih akurat dibandingkan XRD secara kuantitatif/jumlah. XRF bisa memberikan data baik dalam bentuk elemen maupun oksida. Analisanya-pun relatif cepat karena simultan (beberapa elemen atau oksida bisa dianalisa sekaligus dalam sekali running). Biayanya relatif murah juga kok. Kekurangannya : tidak bisa analisa untuk elemen atau oksida dalam kadar rendah (< 0>
PENTING:
1. Bobot sampel minimal 1-3 gr
2. Sampel harus dalam bentuk serbuk (tidak menerima preparasi menjadi serbuk)
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
---|---|---|
Berkas SOP Layanan | 3.66 MB | |
Template File Data Foto | 0 MB | |
Template File Dukung Lainnya | 0 MB |
ok
layanan prima
layanan prima
Terima kasih sudah memberi bantuan pengujian XRF, kesan kami sudah baik dalam pelayanan ini, dan sangat mendukung kegiatan kami
respon sangat cepat ...keren
Pengujian cepat dan proses jelas
OK
Terima kasih
Saya belum lihat upload an hasilnya. Tp, untuk proses pembayaran sampai dengan ke tahap terakhir lancar dan baik. Terima kasih.